Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Adam Foster Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Name: Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology
Price: 25292 JPY
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Author: Adam Foster

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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology

Adam Foster

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2010年11月23日
ISBN13	9781441923066
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	282
寸法	155 × 235 × 16 mm · 417 g
言語	英語