Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II 2006 edition

Name: Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II
Price: 31935 JPY
Availability: OutOfStock

価格

¥ 31.935

税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日年11月6日 - 年11月18日

クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です

お客様の声：

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー

Trustpilotで高評価

iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices - NATO Science Series II

2006 edition

Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-K Dielectric Nano-Electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, from 11 to 14 July 2005.

492 pages, biography

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2006年1月27日
ISBN13	9781402043659
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	492
寸法	210 × 297 × 28 mm · 1,49 kg
言語	英語
編集者	Gusev, Evgeni