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Risk Methodologies for Technological Legacies - NATO Science Series IV Dennis C Bley Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition
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Risk Methodologies for Technological Legacies - NATO Science Series IV
Dennis C Bley
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria from 2 to 11 May 2000
393 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2003年4月30日 |
| ISBN13 | 9781402012587 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 366 |
| 寸法 | 160 × 240 × 20 mm · 625 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Bley, Dennis |
| 編集者 | Eremenko, Vitaly A. |