Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series - Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel) - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9781394210930 - 2024年2月9日
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Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel)
Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series 第1 版

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384 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2024年2月9日
ISBN13 9781394210930
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 400
寸法 201 × 235 × 28 mm   ·   703 g
言語 英語  

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