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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
514 pages, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2014年6月5日 |
| ISBN13 | 9781107409484 |
| 出版社 | Cambridge University Press |
| ページ数 | 514 |
| 寸法 | 152 × 229 × 26 mm · 812 g (重量（概算）) |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Filter, William F. |
| 編集者 | Frost, Harold J. (Dartmouth College, New Hampshire) |
| 編集者 | Ho, Paul S. (University of Texas, Austin) |
| 編集者 | Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New York) |
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