Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - The Cambridge RF and Microwave Engineering Series - T. Mitch Wallis - 書籍 - Cambridge University Press - 9781107120686 - 2017年9月14日
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T. Mitch Wallis
Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - The Cambridge RF and Microwave Engineering Series

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Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

320 pages, 102 b/w illus. 4 tables

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2017年9月14日
ISBN13 9781107120686
出版社 Cambridge University Press
ページ数 328
寸法 178 × 253 × 18 mm   ·   790 g
言語 英語  

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