この商品を友人に教える:
Modeling and Characterization of Advanced Bipolar Transistors and Interconnects for Circuit Simulation Jiann-Shiun Yuan
価格
DKK 252,80
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年12月22日 - 2026年1月2日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
iMusicのウィッシュリストに追加
Modeling and Characterization of Advanced Bipolar Transistors and Interconnects for Circuit Simulation
Jiann-Shiun Yuan
| メディア | 書籍 Book |
| リリース済み | 2022年10月27日 |
| ISBN13 | 9781019258682 |
| 出版社 | Creative Media Partners, LLC |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 462 g |
| 言語 | 英語 |
![Cover for Jiann-Shiun Yuan · CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology (Paperback Book) [1st ed. 2016 edition] (2016)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/825/9789811008825.jpg?jiann-shiun-yuan-2016-cmos-rf-circuit-design-for-reliability-and-variability-springerbriefs-in-applied-sciences-and-technology-paperback-book&class=scaled&v=1502213797)