CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - 書籍 - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 2016年4月21日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

価格
¥ 8.463
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年11月24日 - 年12月4日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Jiann-Shiun Yuan の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2016年4月21日
ISBN13 9789811008825
出版社 Springer Verlag, Singapore
ページ数 106
寸法 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

同じ出版社からのその他の記事

Jiann-Shiun Yuanのすべてを見る