Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Nan Yao - 書籍 - Cambridge University Press - 9780521831994 - 2007年9月13日
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Nan Yao
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

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This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

408 pages, 196 b/w illus.

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2007年9月13日
ISBN13 9780521831994
出版社 Cambridge University Press
ページ数 408
寸法 252 × 180 × 29 mm   ·   862 g
言語 英語  
編集者 Yao, Nan (Princeton University, New Jersey)

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