この商品を友人に教える:
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications Nan Yao
価格
¥ 13.410
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年8月19日 - 年9月4日
Nan Yao の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能：
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Nan Yao
This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
408 pages, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2011年4月14日 |
| ISBN13 | 9780521158596 |
| 出版社 | Cambridge University Press |
| ページ数 | 408 |
| 寸法 | 169 × 246 × 24 mm · 668 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Yao, Nan (Princeton University, New Jersey) |
