Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - 書籍 - Cambridge University Press - 9780521822817 - 2004年1月8日
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Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)
Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

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Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.

770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2004年1月8日
ISBN13 9780521822817
出版社 Cambridge University Press
ページ数 770
寸法 180 × 255 × 43 mm   ·   1,64 kg   (重量（概算）)
言語 英語  

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