Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - 書籍 - Cambridge University Press - 9780521529778 - 2008年12月11日
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Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

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Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.


770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2008年12月11日
ISBN13 9780521529778
出版社 Cambridge University Press
ページ数 770
寸法 175 × 247 × 35 mm   ·   1,38 kg
言語 英語  

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