この商品を友人に教える:
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy Nigel D Browning
価格
¥ 29.779
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年10月1日 - 年10月19日
Nigel D Browning の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
他の形態でも入手可能：
Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Nigel D Browning
This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.
406 pages, 267 b/w illus. 3 tables
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2000年7月6日 |
| ISBN13 | 9780521554909 |
| 出版社 | Cambridge University Press |
| ページ数 | 406 |
| 寸法 | 251 × 177 × 32 mm · 864 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago) |
| 編集者 | Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee) |
