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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy Nigel D Browning
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Nigel D Browning
This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.
408 pages, 267 b/w illus. 3 tables
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2006年11月23日 |
| ISBN13 | 9780521031707 |
| 出版社 | Cambridge University Press |
| ページ数 | 408 |
| 寸法 | 168 × 243 × 21 mm · 669 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago) |
| 編集者 | Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee) |
