Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits - TP Ma - 書籍 - John Wiley & Sons Inc - 9780471848936 - 1989年4月4日
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TP Ma
Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits

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The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits.

608 pages, Ill.

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1989年4月4日
ISBN13 9780471848936
出版社 John Wiley & Sons Inc
ページ数 608
寸法 169 × 245 × 34 mm   ·   948 g
編集者 Dressendorfer, Paul V. (Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico)
編集者 Ma, T. P. (Yale University)

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