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Designer's Guide to Testable Asic Devices Wayne M. Needham 1991 edition
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Designer's Guide to Testable Asic Devices
Wayne M. Needham
While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o
284 pages, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 1991年1月10日 |
| ISBN13 | 9780442002213 |
| 出版社 | Van Nostrand Reinhold Inc.,U.S. |
| ページ数 | 284 |
| 寸法 | 155 × 235 × 20 mm · 607 g |
| 言語 | 英語 |