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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems Santanu Chattopadhyay 第1 版
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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.
118 pages
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2020年6月30日 |
| ISBN13 | 9780367607098 |
| 出版社 | Taylor & Francis Ltd |
| ページ数 | 118 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 172 g |
| 言語 | 英語 |
