Advanced VLSI Design and Testability Issues - Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata - 書籍 - Taylor & Francis Ltd - 9780367492823 - 2020年8月19日
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Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata
Advanced VLSI Design and Testability Issues 第1 版

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This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2020年8月19日
ISBN13 9780367492823
出版社 Taylor & Francis Ltd
ページ数 360
寸法 241 × 162 × 27 mm   ·   718 g
言語 英語  
編集者 Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
編集者 Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
編集者 Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

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