Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography - Robert L. Snyder - 書籍 - Oxford University Press - 9780198501893 - 2000年1月6日
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography

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Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction.


808 pages, numerous line figures

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2000年1月6日
ISBN13 9780198501893
出版社 Oxford University Press
ページ数 808
寸法 164 × 238 × 49 mm   ·   1,29 kg
言語 英語  
編集者 Bunge, Hans J (Department of Physical Metallurgy, Department of Physical Metallurgy, Technical University of Clausthal, Germany)
編集者 Fiala, Jaroslav (Department of Metallurgy, Department of Metallurgy, Central Research Institute Skoda, Czech Republic)
編集者 Snyder, Robert (, Department of Materials Science and Engineering, Columbus, USA)

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