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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography Robert L. Snyder
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography
Robert L. Snyder
Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction.
808 pages, numerous line figures
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2000年1月6日 |
| ISBN13 | 9780198501893 |
| 出版社 | Oxford University Press |
| ページ数 | 808 |
| 寸法 | 164 × 238 × 49 mm · 1,29 kg |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Bunge, Hans J (Department of Physical Metallurgy, Department of Physical Metallurgy, Technical University of Clausthal, Germany) |
| 編集者 | Fiala, Jaroslav (Department of Metallurgy, Department of Metallurgy, Central Research Institute Skoda, Czech Republic) |
| 編集者 | Snyder, Robert (, Department of Materials Science and Engineering, Columbus, USA) |