X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films - - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9789819659449 - 2025年8月12日
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X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

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The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2025年8月12日
ISBN13 9789819659449
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 186
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   453 g
編集者 Evans, Paul G.
編集者 Sando, Daniel
編集者 Valanoor, Nagarajan

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