Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact - - 書籍 - Springer Verlag, Singapore - 9789811661198 - 2021年11月26日
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Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact 2022 edition

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311 pages, 189 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XXIII, 311 p. 213 illus., 18

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2021年11月26日
ISBN13 9789811661198
出版社 Springer Verlag, Singapore
ページ数 311
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   670 g
編集者 Mahapatra, Souvik

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