Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation - Springer Tracts in Modern Physics - - 書籍 - Springer Verlag, Singapore - 9789811304538 - 2018年9月14日
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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation - Springer Tracts in Modern Physics 2018 edition

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It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy.

508 pages, 26 Illustrations, color; 307 Illustrations, black and white; VII, 508 p. 333 illus., 26 i

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2018年9月14日
ISBN13 9789811304538
出版社 Springer Verlag, Singapore
ページ数 508
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   898 g
編集者 Bai, Xuedong
編集者 Tao, Jing
編集者 Wang, Chen
編集者 Wang, Rongming
編集者 Zhang, Hongzhou

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