Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering - Advances in Solid State Technology - J Chikawa - 書籍 - Springer - 9789401086165 - 2011年12月25日
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering - Advances in Solid State Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 1987 edition

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Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication.


272 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年12月25日
ISBN13 9789401086165
出版社 Springer
ページ数 300
寸法 152 × 229 × 14 mm   ·   367 g
編集者 Chikawa, J.
編集者 Sumino, K.
編集者 Wada, K.

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