From scientific instrument to industrial machine: Coping with architectural stress in embedded systems - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering - Sjir Van Loo - 書籍 - Springer - 9789400741461 - 2012年4月29日
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Sjir Van Loo
From scientific instrument to industrial machine: Coping with architectural stress in embedded systems - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering 2012 edition

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Architectural stress is the inability of a system design to respond to new market demands. It is an important yet often concealed issue in high tech systems. In this book, the authors look at the phenomenon of architectural stress in embedded systems in the context of a transmission electron microscope system built by FEI Company.

90 pages, 55 black & white illustrations, 1 black & white tables, 1 colour tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年4月29日
ISBN13 9789400741461
出版社 Springer
ジャンル Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
ページ数 112
寸法 155 × 235 × 6 mm   ·   185 g
編集者 Doornbos, Richard
編集者 Van Loo, Sjir

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