Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series - International Atomic Energy Agency - 書籍 - IAEA - 9789201105158 - 2015年12月14日
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International Atomic Energy Agency
Development of a reference database for ion beam analysis - IAEA-TECDOC Series

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Ion beam analysis techniques are non-destructive analytical techniques used to identify the composition and provide elemental depth profiles in surface layers of materials. Their reliability and accuracy depends on our knowledge of the nuclear reaction cross sections. This publication describes the coordinated effort to measure, compile and evaluate cross section data relevant to these techniques.

226 pages, col. ill. figs, tables

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2015年12月14日
ISBN13 9789201105158
出版社 IAEA
ページ数 226
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   502 g   (重量（概算）)

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