Design for Manufacturability and Yield for Nano-scale Cmos - Integrated Circuits and Systems - Charles Chiang - 書籍 - Springer - 9789048173037 - 2010年11月22日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Charles Chiang
Design for Manufacturability and Yield for Nano-scale Cmos - Integrated Circuits and Systems 1st Ed. Softcover of Orig. Ed. 2007 edition

価格
¥ 16.310
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年12月1日 - 年12月11日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
Charles Chiang の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

255 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年11月22日
ISBN13 9789048173037
出版社 Springer
ページ数 255
寸法 156 × 234 × 15 mm   ·   408 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Charles Chiangのすべてを見る