Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering - Lecture Notes in Physics - Yoshida - 書籍 - Springer Verlag, Japan - 9784431557999 - 2016年3月31日
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Yoshida
Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering - Lecture Notes in Physics 1st ed. 2015 edition

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This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years.

487 pages, 112 black & white illustrations, 180 colour illustrations, 20 black & white tables, biogr

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2016年3月31日
発売日 2015
ISBN13 9784431557999
出版社 Springer Verlag, Japan
ページ数 487
寸法 239 × 161 × 20 mm   ·   848 g
編集者 Langouche, Guido
編集者 Yoshida, Yutaka

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