Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Seiji Samukawa - 書籍 - Springer Verlag, Japan - 9784431547945 - 2014年2月17日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Seiji Samukawa
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2014 edition

価格
¥ 10.495
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月3日 - 年9月21日
Seiji Samukawa の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Three types of sensors are introduced: on-wafer UV sensors, on-wafer charge-up sensors and on-wafer sheath-shape sensors in the plasma processing and prediction system of real etching profiles based on monitoring data.

40 pages, 30 Illustrations, color; 5 Illustrations, black and white; VIII, 40 p. 35 illus., 30 illus

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年2月17日
ISBN13 9784431547945
出版社 Springer Verlag, Japan
ページ数 40
寸法 155 × 235 × 222 mm   ·   86 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Seiji Samukawaのすべてを見る ( 例： Paperback Book )