High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study - Zonglin Li - 書籍 - LAP LAMBERT Academic Publishing - 9783844395297 - 2011年5月17日
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Zonglin Li
High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study

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The reliability of InGaN/GaN light emitting diodes (LEDs) with different emission wavelengths and different geometries was studied. Device performances, like current-voltage characteristics, 1/f noise spectrum, leakage, static resistance, were measured. The devices underwent a 1000-hr constant-current stress test and their optical output degradation rate was examined. The results were explained by cross-related data.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年5月17日
ISBN13 9783844395297
出版社 LAP LAMBERT Academic Publishing
ページ数 80
寸法 150 × 5 × 226 mm   ·   137 g
言語 ドイツ語  

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