Intégration Du Siliciure De Nickel: Pour Les Technologies Cmos Décananométriques - Benoit Froment - 書籍 - Editions universitaires europeennes - 9783841788849 - 2018年2月28日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Intégration Du Siliciure De Nickel: Pour Les Technologies Cmos Décananométriques French edition

価格
¥ 10.331
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月18日 - 年9月30日
Benoit Froment の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Le siliciure de nickel pur ou allié avec du platine est maintenant utilisé comme contacts dans les technologies CMOS car il nécessite un plus faible budget thermique, possède une plus faible résistivité, consomme moins de silicium, a une formation contrôlée par la diffusion et permet d?obtenir une phase peu résistive sur SiGe, contrairement à son prédécesseur le siliciure de cobalt. Malgré ces avantages, un certains nombre de problèmes restent liés à son intégration dans des dimensions décananométriques. Au-delà d?une meilleure connaissance du comportement en température et des propriétés du siliciure de nickel en couches très minces, l?objectif de cet ouvrage est d?améliorer notre connaissance du NiSi, pour l?intégrer sur les n?uds technologiques inférieurs au 65nm, et de caractériser et d?éventuellement résoudre tous les défis relatifs à l?intégration de ce nouveau matériau dans un environnement toujours plus dense. L?ensemble des résultats et des caractérisations réalisées ont permis de proposer un scénario de formation de l?intrusion du siliciure dans le canal. Ce livre s'adresse principalement aux étudiants, professeurs et chercheurs en micro et nano-électronique.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年2月28日
ISBN13 9783841788849
出版社 Editions universitaires europeennes
ページ数 228
寸法 150 × 13 × 226 mm   ·   340 g
言語 フランス語