Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - 書籍 - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 2012年11月1日
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Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年11月1日
ISBN13 9783709172049
出版社 Springer Verlag GmbH
ページ数 554
寸法 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
言語 英語  

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