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Ellipsometry at the Nanoscale Softcover reprint of the original 1st ed. 2013 edition
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Ellipsometry at the Nanoscale
This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials.
730 pages, XXIV, 730 p.
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2016年8月23日 |
| ISBN13 | 9783662519714 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 730 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 1,04 kg |
| 言語 | ドイツ語 |
| 編集者 | Hingerl, Kurt |
| 編集者 | Losurdo, Maria |