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Sqa Defect Prediction: an Svm Based In-appendage Software Log Analysis Rajasekhar Reddy Nandireddy
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Sqa Defect Prediction: an Svm Based In-appendage Software Log Analysis
Rajasekhar Reddy Nandireddy
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2015年9月24日 |
| ISBN13 | 9783659581908 |
| 出版社 | LAP Lambert Academic Publishing |
| ページ数 | 176 |
| 寸法 | 152 × 229 × 10 mm · 280 g |
| 言語 | ドイツ語 |