Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences - J. Bourgoin - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642818349 - 2011年12月8日
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Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

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In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.


295 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年12月8日
ISBN13 9783642818349
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 295
寸法 155 × 235 × 17 mm   ·   449 g
言語 英語  

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