この商品を友人に教える:
Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers G Nther Bauer Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition
価格
¥ 8.921
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 年9月14日 - 年9月24日
G Nther Bauer の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加
Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
G Nther Bauer
The characterization of epitaxial layers and their surfaces has benefitted a lot from the enormous progress of optical analysis techniques during the last decade.
429 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2011年12月14日 |
| ISBN13 | 9783642796807 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 429 |
| 寸法 | 155 × 235 × 23 mm · 625 g |
| 言語 | ドイツ語 |
| 編集者 | Bauer, Gunther |
| 編集者 | Richter, Wolfgang |