Field-Ion Microscopy - Crystals - R. Wagner - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642686894 - 2011年12月7日
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R. Wagner
Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

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Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.

134 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年12月7日
ISBN13 9783642686894
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 118
寸法 170 × 244 × 7 mm   ·   226 g
言語 ドイツ語  

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