Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 2012年10月23日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

価格
¥ 33.626
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年8月7日 - 年8月19日
S Morita の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月23日
ISBN13 9783642627729
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 440
寸法 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
言語 ドイツ語  
編集者 Meyer, E.
編集者 Morita, S.
編集者 Wiesendanger, Roland

同じ出版社からのその他の記事

S Moritaのすべてを見る ( 例： Paperback Book )