Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 2014年11月26日
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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

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The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年11月26日
ISBN13 9783642445019
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 344
寸法 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
言語 英語  

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