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Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory K. C. Khulbe Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition
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Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory
K. C. Khulbe
Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool.
198 pages, 146 black & white illustrations, 51 black & white tables, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2010年11月22日 |
| ISBN13 | 9783642093272 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 198 |
| 寸法 | 155 × 235 × 11 mm · 308 g |
| 言語 | 英語 |