Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Name: Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2010年2月12日
ISBN13	9783642065965
出版社	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数	378
寸法	155 × 235 × 21 mm · 639 g
言語	ドイツ語
編集者	Bhushan, Bharat
編集者	Fuchs, Harald