Seizo Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology Seizo Morita 2009 edition

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology
Price: 36877 JPY
Availability: OutOfStock
Author: Seizo Morita

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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology

Seizo Morita

2009 edition

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;

419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2009年10月1日
ISBN13	9783642014949
出版社	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ジャンル	Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
ページ数	401
寸法	155 × 235 × 25 mm · 703 g
言語	フランス語
編集者	Giessibl, Franz J.
編集者	Morita, Seizo
編集者	Wiesendanger, Roland