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Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology 2008 edition
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Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology
The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.
447 pages, 189 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 25 black & white tables
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2008年1月11日 |
| ISBN13 | 9783540740827 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 387 |
| 寸法 | 165 × 243 × 21 mm · 725 g |
| 言語 | ドイツ語 |
| 編集者 | Bhushan, Bharat |
| 編集者 | Fuchs, Harald |
| 編集者 | Tomitori, Masahiko |