Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - Roland Wiesendanger - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540431176 - 2002年7月24日
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Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology 2002 edition

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Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);


458 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2002年7月24日
ISBN13 9783540431176
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 440
寸法 164 × 241 × 35 mm   ·   766 g
言語 ドイツ語  
編集者 Meyer, E.
編集者 Morita, S.
編集者 Wiesendanger, Roland

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