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Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology Donna R. Kemp 1st edition
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Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology
Donna R. Kemp
Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.
338 pages, 7 black & white tables, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2006年10月18日 |
| ISBN13 | 9783540373186 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 338 |
| 寸法 | 155 × 235 × 19 mm · 648 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Bhushan, Bharat |
| 編集者 | Fuchs, Harald |
| 編集者 | Kawata, Satoshi |