Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 2006年10月18日
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Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

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Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年10月18日
ISBN13 9783540373186
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 338
寸法 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
言語 英語  
編集者 Bhushan, Bharat
編集者 Fuchs, Harald
編集者 Kawata, Satoshi

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