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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2006年2月22日 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 378 |
| 寸法 | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| 言語 | ドイツ語 |
| 編集者 | Bhushan, Bharat |
| 編集者 | Fuchs, Harald |