Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 2006年2月22日
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

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There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年2月22日
ISBN13 9783540269090
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 378
寸法 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
言語 ドイツ語  
編集者 Bhushan, Bharat
編集者 Fuchs, Harald

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