Gettering Defects in Semiconductors - Springer Series in Advanced Microelectronics - Victor A. Perevostchikov - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262442 - 2005年9月15日
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Gettering Defects in Semiconductors - Springer Series in Advanced Microelectronics 2005 edition

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Systematizes the experience and research in exploiting various gettering techniques in microelectronics and nanoelectronics. This book describes contemporary trends in gettering technologies from an international perspective. It also discusses the types and properties of structural defects in semiconductors.


388 pages, 70 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2005年9月15日
ISBN13 9783540262442
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 388
寸法 155 × 235 × 23 mm   ·   739 g
言語 英語  
翻訳者 Gloumov, Victor

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