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In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science D Dehm

Name: In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
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In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

D Dehm

Adopting a didactical approach from fundamentals to actual experiments and applications, this handbook and ready reference covers real-time observations using modern scanning electron microscopy and transmission electron microscopy, while also providing information on the required stages and samples.

402 pages, Illustrations

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2012年4月26日
ISBN13	9783527319732
出版社	Wiley-VCH Verlag GmbH
ページ数	402
寸法	174 × 247 × 23 mm · 910 g
言語	英語
編集者	Dehm, Gerhard (Montanuniversitat Leoben, Leoben, Austria)
編集者	Howe, James M. (University of Virginia, Charlottesville, USA)
編集者	Zweck, Josef (Universitat Regensburg, Regensburg, Germany)