Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science - Cor Claeys - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319939247 - 2018年8月22日
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science 1st ed. 2018 edition

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material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.


438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2018年8月22日
ISBN13 9783319939247
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 438
寸法 163 × 245 × 31 mm   ·   818 g
言語 フランス語  

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