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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science Cor Claeys 1st ed. 2018 edition
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact - Springer Series in Materials Science
Cor Claeys
material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
438 pages, 207 Illustrations, color; 8 Illustrations, black and white; XXXIII, 438 p. 215 illus., 20
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2018年8月22日 |
| ISBN13 | 9783319939247 |
| 出版社 | Springer International Publishing AG |
| ページ数 | 438 |
| 寸法 | 163 × 245 × 31 mm · 818 g |
| 言語 | フランス語 |