Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Selahattin Sayil - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319888194 - 2018年9月4日
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Selahattin Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition

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The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年9月4日
ISBN13 9783319888194
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 93
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   184 g
言語 ドイツ語  

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